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X射線晶體光譜分析儀

發(fā)布于：2024-09-23 14:57:18

品牌名稱：Luxium Solutions

重要參數(shù)：

晶體：LiF、石英或 SiO2、InSb、Si、Ge、PET、ADP、Beryl、TlAP、RbAP、KAP 和 CsAP

形狀：平面、曲面、球形、環(huán)形、橢球、錐形、其他

1. X射線光譜儀的基本組成：

激發(fā)源：可以是初級X射線或電子束。

單色器晶體：用于分散入射光束的各種光譜成分。

輻射探測器：用于測量單色器分離出的各種光譜線的強度。

2. 單色器晶體：

晶體在X射線光譜學(xué)中的作用類似于光學(xué)中的衍射光柵。

晶體通過旋轉(zhuǎn)以滿足布拉格定律(2d sin θ = n λ)，其中n是衍射級數(shù)。

3. X 射線光柵晶體：

提供的晶體形狀包括平面和曲面。

平面晶體可以單獨提供或安裝在適合工業(yè)X射線熒光光譜儀的支架上。

曲面晶體通常用于微探針和掃描電子顯微鏡等儀器。

4. 晶體的類型

LiF、石英或 SiO2、InSb、Si、Ge、PET、ADP、Beryl、TlAP、RbAP、KAP 和 CsAP

5. Johann幾何(半聚焦)和Johansson幾何(精確聚焦幾何)：

Johann幾何：薄板通過裂解或機械加工制成，然后彎曲并粘合在曲率半徑為2R的支架上。

Johansson幾何：單面加工和雙面加工兩種配置。

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